首页
学术活动
题 目:高密度电流作用下Sn基微焊点中的电迁移危害及电子封装教学浅谈
主讲人:岳武 副教授
时 间:2021年5月21日
地 点:2号报告厅
报告人简介:岳武,兰州工业学院副教授。
上一条:学术报告|预告:国内集成电路产业的现状暨我省集成电路产业发展的思考 下一条:学术报告|预告:从简单人口模型到混沌:深刻数学思想的展现
【关闭】